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研究支援事業部

太陽電池評価

太陽電池評価メニュー
太陽電池の評価項目と設備
評価対象 評価内容 設備
シリコン
（結晶系）		 インゴット
  • 不純物分析
セル
シリコン
（薄膜系）		 セル
  • 表面汚染・付着物分析
  • 注入元素の深さ方向分析
  • 結晶粒評価
  • 結晶性評価
  • キャリア濃度、移動度、電気抵抗率測定
  • 構造解析
  • I-V特性、C-V特性
化合物系 セル
  • TOF-SIMS、ESCA、FT-IR
  • SIMS
  • EBSD
  • ラマン分光分析装置
  • ホール特性測定装置
  • FE-SEM/SEM、TEM、GD-OES
  • 電流源、電圧計、LCRメーター
透明電極膜
  • 不純物分析
  • キャリア濃度、移動度、電気抵抗率測定
  • 分光透過率測定
  • 状態分析
  • 構造解析
  • 密着性測定
  • 表面性状調査
反射防止膜
  • 不純物分析
  • 脱ガス分析
  • 無機膜構造・状態分析
  • 有機膜構造解析
電極・配線
  • 元素分析
  • 硬度測定
  • 結晶粒評価
  • 電気抵抗測定
  • 配線金属と光電変換部間の密着性評価
  • ICP-AES、XRF
  • ナノインデンテーション
  • EBSD
  • 抵抗率計
  • スクラッチ試験機
バスバー、シャント
  • 絶縁抵抗測定
  • 絶縁耐圧測定
  • 通電耐久性試験
  • 通電疲労試験
各種樹脂材料
  緩衝材、封止材
  バックシート
  • 組成・膜構造解析
  • 異物分析
  • 樹脂の劣化の評価
カバーガラス
  • 成分分析
  • 表面汚れ・付着物分析
  • 分光透過率測定
  • 表面性状調査
  • 封止材との密着性評価
フレーム材料
  • 組成分析
  • 耐食性評価
  • 耐候性評価
  • 溶接部評価
太陽電池パネル
  • 絶縁性評価
  • 部分放電特性評価
  • 環境試験
  • 耐食性評価
  • 耐候性評価
  • ガス腐食性試験
製造環境
ご質問、ご相談などございましたら、お気軽にお問い合わせ下さい。

研究支援事業部・解析技術部・分析技術室
赤穂
TEL: 06-7710-5753, FAX: 06-6489-5958
E-mail: bunseki@smt-co.com

研究支援事業部・解析技術部・物理解析室
田中
TEL: 06-6489-5777, FAX: 06-6489-5759
E-mail: buturi@smt-co.com