特殊試験
陽電子試験装置
格子欠陥等、材料の内部構造を調査する方法には、透過型電子顕微鏡、電気抵抗値測定等がありますが、局部的ではなく、もう少し広い範囲の内部構造変化を定量的に測定する方法の一つとして陽電子消滅試験があります。
陽電子消滅試験は、転位や原子空孔等の格子欠陥の変化を定量的に測定することが可能であり、疲労破壊の前兆や高温でのクリープ変形の微小な変化を把握し、構造材料の破壊が生じる前に、すなわち、超音波非破壊試験等で微小亀裂が検出される前に、回復処理等の処置を施すことによって、構造物の延命処置に繋げられる可能性があります。
また、金属材料に限らず、例えば高分子材料の自由体積や、ガスを用いた細孔分布測定装置では測定が難しい、セラミックス材料等の微小空孔の測定等も可能です。試験装置は、その他の材料試験装置と組み合わせた複合型陽電子試験装置の製作も行っております。
- 陽電子試験装置の製作例
- γ-γ型 陽電子消滅試験装置
- β-γ型 陽電子消滅試験装置 (PALSMAC®1000)
- β-γ型 陽電子線クリープ試験装置 (PALSMAC®2000)
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