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計測検査システム事業部

非破壊検査（NDI）システム

丸ビレット用全断面検査装置
探傷方式
表面疵：
交流漏洩磁束探傷
表層部：
超音波斜角探傷
内部：
超音波垂直探傷

丸ビレット用全断面検査装置

主仕様

丸ビレット用検査装置主仕様

 

お問い合わせ

計測検査システム事業部
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